检测难点
该应用的难点在于，光伏硅片的厚度薄（一般仅0.18mm）、材质脆，易破碎，在加工工序的后段，硅片对光的吸收效率逐渐提高，而常规检测方式缺点明显：
接触式磁栅尺测厚：
需要增加额外机械结构；
接触式检测容易损坏硅片；
高精度激光测厚：
后段工序硅片吸光率增加，激光检测不稳定；
对目标物的机械振动敏感，安装要高；
需要额外增加触发传感器和模块接口；
电涡流传感器：无法测量硅片等非金属材料双张；
那么，我们正在寻求一种更适合此应用的非接触式检测方式，能在不损坏硅片的情况下，简单、稳定、可靠地输出双张硅片的状态？
解决方案
倍加福推荐使用非接触式的超声波双张检测解决方案，能更好地解决硅片单双张的检测难题。双张超声波传感器，属于对射型产品，特定频率的超声波通过发射端发射处出来后，在穿透目标物的过程中，部分能量被目标物反射、吸收，最后被接收器接收。
如果目标物为双张，超声波在穿透目标物时会在双张之间的空气层发生很大的能量衰减。
超声波双张传感器检测
通过将接收端测量的能量值代入预设的模式进行计算，可以准确地识别材料的单双张状态，并提供开关点信号输出。
超声波双张传感器检测不同目标物时，能量值不一
产品优势
通用，效率更高
从薄膜、硅片、玻璃面板、厚纸板到金属板，超声波双张可以用于广泛的材料检测，并且不受被测物的颜色、反光度、表面纹理的影响，哪怕是透明材料。
超声波双张传感器可以对物料进行非接触式检测，在物料不受任何损伤的前提下，仍能保持较高效率的生产效率。
IO-link接口，智慧赋能
倍加福IO-link双张超声波传感器支持推挽接口输出，在兼容PNP/NPN接口的同时，可自由设定开关点的常开常闭，降低客户库存成本。
通过IO-link接口，客户可以获取传感器的所有标识信息、参数设定、诊断数据和过程数据，这些信息对于故障发生时的原因分析和智能工厂的预测性维护，都很有帮助。
在加工材料发生变化的时候，还可通过IO-link，进行材料能量特性评估和阈值动态切换，保证使用理想的参数进行稳定检测，无需人工物理层面介入，助力智能工厂的柔性化生产，提高设备的自动化和无人化。
配合高达2.8ms的动态IO-link数据刷新速度，用户可实时获取物料能量衰减的原始数据，这些原始数据给客户利用算法分析物料特性提供了可能性，复杂材料的双张检测（如带孔PCB等材料）成为可能。
预设阈值和 Tech-in 模式
对于大多数检测标准材料的应用，只需使用初始的阈值即可开始检测，无需任何设置，初始阈值覆盖了广泛的材料范围。如果材料超出初始阈值范围，只需使用输入引脚或IO-link接口调到其它的阈值设置，就可以立刻生效并开始正常工作。
传感器在特殊的应用，例如多层纸生产(卫生纸、尿布、双层包装袋)等应用中，通过PLC控制或者IO-link接口开启 Teach-in 模式，传感器会自动分析材料的能量特性，设定特殊的阈值，并在设置成功后给出一个数字量反馈信号，无需人工介入，并可根据 Teach-in 阈值连续识别特殊物料。 Teach-in 模式扩展了传感器的应用范围，客户端使用更加灵活。
特性一览
倍加福新一代 UDC-18GS-IO 系列
IO-link 智能双张传感器，
性能更新升级，无惧应用挑战
亮点
用途广泛：从薄膜、纸张到金属，繁杂的颜色和材料种类，皆可轻松应对
智慧赋能：集成IO-link接口，可以访问传感器参数，诊断和过程数据，实时掌控生产
智能检测：通过预设的阈值程序、IO-link实时能量反馈或Teach-in材料学习功能，几乎覆盖各种材料的可靠检测
自动同步：有限空间安装多个传感器，独特的自动同步功能可以确保之间互不干扰